LED燈電子元器件需要做哪些可靠性測試？


物理特性測試項目
1、內(nèi)部水汽：確定在金屬或陶瓷封裝的光電子器件內(nèi)部氣體中水汽含量。
2、密封性：確定具有內(nèi)空腔的光電子器件封裝的氣密性。
3、ESD闊值：確定光電子器件受靜電放電作用所造成損傷和退化的靈敏度和敏感性。
4、可燃性：確定光電子器件所使用材料的可燃性。
5、剪切力：確定光電子器件的芯片和無源器件安裝在管座或其他基片上使用材料和工藝的完整性。
6、可焊性：確定需要焊接的光電子器件引線（直徑小于30175mm的引線，以及截面積相當(dāng)?shù)谋馄揭€）的可焊性。
7、引線鍵合強度：確定光電子器件采用低溫焊、熱壓焊、超聲焊等技術(shù)的引線鍵合強度。
?機械完整性試驗項目
1、機械沖擊：確定光電子器件是否能適用在需經(jīng)受中等嚴(yán)酷程度沖擊的電子設(shè)備中。沖擊可能是裝卸、運輸或現(xiàn)場使用過程中突然受力或劇烈振動所產(chǎn)生的。
2、變頻振動：確定在規(guī)范頻率范圍內(nèi)振動對光電子器件各部件的影響。
3、熱沖擊：確定光電子器件在遭受到溫度劇變時的抵抗能力和產(chǎn)生的作用。
4、插拔耐久性：確定光電子器件光纖連接器的插入和拔出，光功率、損耗和反射等參數(shù)是否滿足重復(fù)性要求。
5、存儲試驗：確定光電子器件能否經(jīng)受高溫和低溫下運輸和儲存。
6、溫度循環(huán)：確定光電子器件承受溫度和極低溫度的能力，以及溫度和極低溫度交替變化對光電子器件的影響。
7、恒定濕熱：確定密封和非密封光電子器件能否同時承受規(guī)定的溫度和濕度。
8、高溫壽命：確定光電子器件高溫加速老化失效機理和工作壽命。
?加速老化試驗
? 在光電子器件上施加高溫、高濕和一定的驅(qū)動電流進行加速老化。依據(jù)試驗的結(jié)果來判定光電子器件具備功能和喪失功能，以及接收和拒收，并可對光電子器件工作條件進行調(diào)整和對可靠性進行計算。
1、高溫加速老化：加速老化過程中的基本環(huán)境應(yīng)力式高溫。在實驗過程中，應(yīng)定期監(jiān)測選定的參數(shù)，直到退化超過壽命終止為止。
2、恒溫試驗：恒溫試驗與高溫運行試驗類似，應(yīng)規(guī)定恒溫試驗樣品數(shù)量和允許失效數(shù)。
3、變溫試驗：變化溫度的高溫加速老化試驗是定期按順序逐步升高溫度（例如，60℃、85℃和100℃）。
4、溫度循環(huán)：除了作為環(huán)境應(yīng)力試驗需要對光電子器件進行溫度循環(huán)外，溫度循環(huán)還可以對管電子器件進行加速老化。溫度循環(huán)的加速老化目的一般不是為了引起特定的性能參數(shù)的退化，而是為了提供封裝在組件里的光路長期機械穩(wěn)定性的附加說明

LED色溫：中性白是什么？
通常人眼所見到的光線，是由光的三原色（紅綠藍）組成的7種色光的光譜所組成。色溫就是用來量度光線的顏色成分的。 色溫分為：3000-4500K暖白，4500-6500K正白，6500-8000K冷白。 中性白是：4300K。

制作白光LED的幾種方法
在LED藍光芯片上涂覆YAG（yttrium aluminum garnet，釔鋁石榴石）熒光粉，芯片發(fā)出的藍光激發(fā)熒光粉后可產(chǎn)生典型的500~560nm的黃綠光，黃綠光再與藍色光合成白光。利用這種方法制備白光相當(dāng)簡單，便于實現(xiàn)且，資金投入不太大，因此具有一定的實用性。其缺點是熒光粉與膠混合后，均勻性較難控制。由于熒光粉易沉淀，導(dǎo)致布膠不均勻、布膠量不好控制，因而造成出光均勻性差、色調(diào)一致性不好、色溫易偏離且顯色性不夠理想。
·RGB三基色混合。
這種方法是將綠、紅、藍三種LED芯片組合，同時通電，然后將發(fā)出的綠光、紅光、藍光按一定比例混合成白光。綠、紅、藍的比例通常是6：3：1，或用藍光芯片加黃綠色的雙芯片補色來產(chǎn)生白光。只要通過各色芯片的電流穩(wěn)定、散熱較好，那么這種方法產(chǎn)生的白光比上述產(chǎn)生的白光穩(wěn)定且制作簡單。但是，由于紅、綠、藍三種芯片的光衰不一樣，驅(qū)動方法（控制通過LED電流大小的方法）要考慮到不同芯片的光衰不一樣。采用不同的電流進行補償，使之發(fā)出的光比例控制在6：3：1。這樣可以保持混合的白光穩(wěn)定，從而達到理想的效果。
·在LED紫外光芯片上涂覆RGB熒光粉。
這種方法利用紫外光激發(fā)熒光粉產(chǎn)生三基色光來混合形成白光.